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The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

Salvato in:
Autore principale: Maunder, Colin M. (autor)
Altri autori: Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Soggetti:
Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal
Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición
Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal
Arquitectura de Computadoras
Ingeniería Computacional
Ingeniería Electrónica
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Collocazione:
621. 392 MAU
Ejemplar 0500147727
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Collezione:
Colección General
Note:
Ubicar en Nivel 1 Área de Colección General

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