The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

-д хадгалсан:

Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолч:	Maunder, Colin M. (autor)
Бусад зохиолчид:	Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Формат:	Ном
Хэл сонгох:	англи
Хэвлэсэн:	Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Нөхцлүүд:	Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal Arquitectura de Computadoras Ingeniería Computacional Ingeniería Electrónica
Шошгууд:	Шошго нэмэх Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!

Хамгийн түрүүнд сэтгэгдэл үлдээх!

Ижил төстэй зүйлс