Delwedd Flaen
Côd QR

The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

Wedi'i Gadw mewn:
Prif Awdur: Maunder, Colin M. (autor)
Awduron Eraill: Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Fformat: Llyfr
Iaith:Saesneg
Cyhoeddwyd: Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Pynciau:
Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal
Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición
Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal
Arquitectura de Computadoras
Ingeniería Computacional
Ingeniería Electrónica
Tagiau: Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!

Gwaith Cynnal a Chadw ar y Gweill

Rydym yn gwneud gwaith cynnal a chadw ar ein System Rheoli'r Llyfrgell ar hyn o bryd

Nid yw gwybodaeth am y stoc nac am argaeledd yr eitemau ar gael ar hyn o bryd. Rydym yn ymddiheuro am unrhyw anhwylustod. Cysylltwch â ni am ragor o wybodaeth.

biblioteca@iteso.mx

Eitemau Tebyg