The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

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Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Maunder, Colin M. (autor)
Altres autors:	Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Format:	Llibre
Idioma:	anglès
Publicat:	Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Matèries:	Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal Arquitectura de Computadoras Ingeniería Computacional Ingeniería Electrónica
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