The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Maunder, Colin M. (autor)
مؤلفون آخرون:	Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
التنسيق:	كتاب
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
الموضوعات:	Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal Arquitectura de Computadoras Ingeniería Computacional Ingeniería Electrónica
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

كن أول من يترك تعليقا!

مواد مشابهة