Digital Systems Testing and Testable Design /

Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Abramovici, Miron (autor)
Otros autores: Breuer, Melvin A. (autor), Friedman, Arthur D. (autor)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Nueva York, EUA : IEEE, 1990, c1990
Edición:2a edición
Temas:
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