Digital Systems Testing and Testable Design /
Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Altres autors: | , |
| Format: | Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Nueva York, EUA :
IEEE,
1990, c1990
|
| Edició: | 2a edición |
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
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MARC
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| 245 | 1 | 0 | |a Digital Systems Testing and Testable Design / |a M. Abramovici, M.A. Breuer, A.D. Friedman. |
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| 264 | 4 | |a Nueva York, EUA : |b IEEE, |c 1990, c1990 | |
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| 520 | |a Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos. | ||
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| 650 | |a Circuitos Electrónicos - |x Prueba y Medición | ||
| 650 | |a Electrónica Digital | ||
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