Digital Systems Testing and Testable Design /
Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | , |
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Nueva York, EUA :
IEEE,
1990, c1990
|
| Painos: | 2a edición |
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
MARC
| LEADER | 00000nam^a2200000^a^4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 000095142 | ||
| 005 | 20250521000000.0 | ||
| 009 | 20260310092859.443 | ||
| 020 | |a 0-7803-1062-4 | ||
| 037 | |a Acervo ITESO - Biblioteca | ||
| 041 | |a ING | ||
| 082 | |a 621. 3815 |b ABR | ||
| 100 | |a Abramovici, Miron |e (autor) | ||
| 245 | 1 | 0 | |a Digital Systems Testing and Testable Design / |a M. Abramovici, M.A. Breuer, A.D. Friedman. |
| 250 | |a 2a edición |b revisada | ||
| 264 | 4 | |a Nueva York, EUA : |b IEEE, |c 1990, c1990 | |
| 300 | |a 652 p. | ||
| 336 | |a texto |b txt |2 rdacontenido | ||
| 337 | |a sin mediación |b n |2 rdamedio | ||
| 338 | |a volumen |b nc |2 rdasoporte | ||
| 520 | |a Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos. | ||
| 649 | |a XX | ||
| 650 | |a Circuitos Electrónicos - |x Prueba y Medición | ||
| 650 | |a Electrónica Digital | ||
| 650 | |a Ingeniería Electrónica | ||
| 700 | |a Breuer, Melvin A. |e (autor) | ||
| 700 | |a Friedman, Arthur D. |e (autor) | ||
| 910 | |a Fondo General | ||
| 920 | |a Impresos - Libros | ||
| 930 | |a Colección General | ||
| 905 | |a 101 | ||
| 901 | |a 0500029093 |b IT1 |c ACC |u 20250521 | ||
| 902 | |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000095142 | ||