Cita APA (7a ed.)
Abramovici, M., Breuer, M. A., & Friedman, A. D. Digital Systems Testing and Testable Design (2a edición.). IEEE.
Cita estilo Chicago (17a ed.)
Abramovici, Miron, Melvin A. Breuer, y Arthur D. Friedman. Digital Systems Testing and Testable Design. 2a edición. Nueva York, EUA: IEEE.
Cita MLA (9a ed.)
Abramovici, Miron, et al. Digital Systems Testing and Testable Design. 2a edición. IEEE.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.