Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures /

Contenido: 1) Verilog HDL para diseño y prueba; 2) Modelado de fallas y defectos; 3) Aplicaciones y métodos de simulación de fallos; 4) Métodos y algoritmos de generación de patrones de prueba; 5) Algoritmos de generación de pruebas deterministas; 6) Diseño para prueba por medio de escaneo; 7) Métod...

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書目詳細資料
主要作者: Navabi, Zainalabedin (autor)
格式: 圖書
語言:英语
出版: Nueva York, EUA : Springer, 2011, c2011
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