Digital Systems Testing and Testable Design /

Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Abramovici, Miron (autor)
Altri autori: Breuer, Melvin A. (autor) (autor), Friedman, Arthur D. (autor) (autor)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Nueva York, EUA : IEEE, 1990, c1990
Edizione:2a edición
Soggetti:
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Dettagli sul posseduto da IT1
Collocazione:
621. 3815 ABR
Ejemplar 0500029093
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Collezione:
Colección General
Note:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General