IEEE Standard Test Access Port and Boundary : Scan Architecture /
Norma que define los circuitos que han de ser construidos en circuitos integrados para pruebas, mantenimiento y soporte de tarjetas de circuitos impresos ensamblados. Este estándar, publicado en 1990, actualmente es también conocido como JTAG (Joint Test Action Group) y se usa para la prueba de subm...
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Nueva York, EUA :
IEEE Computer Society,
1990, c1990
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| Schlagworte: | |
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