Digital Systems Testing and Testable Design /

Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.

Gardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Abramovici, Miron (autor)
Outros autores:	Breuer, Melvin A. (autor) (autor), Friedman, Arthur D. (autor) (autor)
Formato:	Libro
Idioma:	inglés
Publicado:	Nueva York, EUA : IEEE, 1990, c1990
Edición:	2a edición
Temas:	Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición Electrónica Digital Ingeniería Electrónica
Etiquetas:	Engadir etiqueta Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

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