Digital Systems Testing and Testable Design /

Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Abramovici, Miron (autor)
مؤلفون آخرون: Breuer, Melvin A. (autor) (autor), Friedman, Arthur D. (autor) (autor)
التنسيق: كتاب
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Nueva York, EUA : IEEE, 1990, c1990
الطبعة:2a edición
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!