Digital Systems Testing and Testable Design /

Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Abramovici, Miron (autor)
Beste egile batzuk: Breuer, Melvin A. (autor) (autor), Friedman, Arthur D. (autor) (autor)
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Nueva York, EUA : IEEE, 1990, c1990
Edizioa:2a edición
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!