Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors /
Contenido: 1) Introducción: 2) Mediciones y modelado del desajuste; 3) Extracción de parámetros; 4) Orígenes físicos de desajuste en transistores MOSFET [Metal Oxide Semiconductor Field-Effect Transistors]; 5) Aspectos técnicos; 6) Impacto de la rugosidad en el borde de la línea; 7) Conclusiones: tr...
I tiakina i:
| Kaituhi matua: | |
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| Ētahi atu kaituhi: | , |
| Hōputu: | Pukapuka |
| Reo: | Ingarihi |
| I whakaputaina: |
Nueva York, EUA :
Springer,
2005, c2005
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| Rangatū: | (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science ; Analog Circuits and Signal Processing)
851. |
| Ngā marau: | |
| Ngā Tūtohu: |
Kāore He Tūtohu, Me noho koe te mea tuatahi ki te tūtohu i tēnei pūkete!
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| Tau karanga: |
621. 3815284 CRO
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|---|---|---|---|
| Ejemplar 0500174727 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
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Kohinga:
Colección General
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Ngā tuhipoka:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
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