Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors /
Contenido: 1) Introducción: 2) Mediciones y modelado del desajuste; 3) Extracción de parámetros; 4) Orígenes físicos de desajuste en transistores MOSFET [Metal Oxide Semiconductor Field-Effect Transistors]; 5) Aspectos técnicos; 6) Impacto de la rugosidad en el borde de la línea; 7) Conclusiones: tr...
Gorde:
| Egile nagusia: | |
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| Beste egile batzuk: | , |
| Formatua: | Liburua |
| Hizkuntza: | ingelesa |
| Argitaratua: |
Nueva York, EUA :
Springer,
2005, c2005
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| Saila: | (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science ; Analog Circuits and Signal Processing)
851. |
| Gaiak: | |
| Etiketak: |
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| Sailkapena: |
621. 3815284 CRO
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| Ejemplar 0500174727 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
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Bilduma:
Colección General
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Oharrak:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
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