Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors - Croon, Jeroen A. ((The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science ; Analog Circuits and Signal Processing))
Contenido: 1) Introducción: 2) Mediciones y modelado del desajuste; 3) Extracción de parámetros; 4) Orígenes físicos de desajuste en transistores MOSFET [Metal Oxide Semiconductor Field-Effect Transistors]; 5) Aspectos técnicos; 6) Impacto de la rugosidad en el borde de la línea; 7) Conclusiones: trabajo futuro y pronósticos.