Azala
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The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

Gorde:
Egile nagusia: Maunder, Colin M. (autor)
Beste egile batzuk: Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Gaiak:
Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal
Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición
Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal
Arquitectura de Computadoras
Ingeniería Computacional
Ingeniería Electrónica
Etiketak: Etiketa erantsi
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Bazkideak Erreserben informaziorako
Sailkapena:
621. 392 MAU
Ejemplar 0500147727
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Bilduma:
Colección General
Oharrak:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General

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