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The Test Access Port and Boundary Scan Architecture /

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Hovedforfatter: Maunder, Colin M. (autor)
Andre forfattere: Tulloss, Rodham E. (autor) (autor)
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: Washington, EUA : IEEE Computer Society, 1990, c1990
Fag:
Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal
Circuitos Electrónicos - > Prueba y Medición
Circuitos Electrónicos - > Proceso de Datos - > Tema Principal
Arquitectura de Computadoras
Ingeniería Computacional
Ingeniería Electrónica
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Klassifikationsnummer:
621. 392 MAU
Ejemplar 0500147727
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Colección:
Colección General
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