Digital Systems Testing and Testable Design /

Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Abramovici, Miron (autor)
Outros Autores: Breuer, Melvin A. (autor) (autor), Friedman, Arthur D. (autor) (autor)
Formato: Livro
Idioma:inglês
Publicado em: Nueva York, EUA : IEEE, 1990, c1990
Edição:2a edición
Assuntos:
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Detalhes do Exemplar IT1
Área/Cota:
621. 3815 ABR
Ejemplar 0500029093
Disponible
Préstamo 7 días a 90
Coleção:
Colección General
Observações:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General