Digital Systems Testing and Testable Design /
Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.
保存先:
| 第一著者: | |
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| その他の著者: | , |
| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | 英語 |
| 出版事項: |
Nueva York, EUA :
IEEE,
1990, c1990
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| 版: | 2a edición |
| 主題: | |
| タグ: |
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| 請求記号: |
621. 3815 ABR
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| Ejemplar 0500029093 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
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コレクション:
Colección General
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注記:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
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