Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures /
Contenido: 1) Verilog HDL para diseño y prueba; 2) Modelado de fallas y defectos; 3) Aplicaciones y métodos de simulación de fallos; 4) Métodos y algoritmos de generación de patrones de prueba; 5) Algoritmos de generación de pruebas deterministas; 6) Diseño para prueba por medio de escaneo; 7) Métod...
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Nueva York, EUA :
Springer,
2011, c2011
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Ver documento en línea |
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