Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques /
Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueb...
Kaydedildi:
| Yazar: | |
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| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | İngilizce |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Londres, Inglaterra :
Springer,
2006, c2006
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| Konular: | |
| Etiketler: |
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| Yer Numarası: |
621. 381548 GRO
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| Ejemplar 0500174775 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
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Koleksiyon:
Colección General
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Notlar:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
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