Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques /

Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueb...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

1. autor:	Grout, Ian A. (autor)
Format:	Książka
Język:	angielski
Wydane:	Londres, Inglaterra : Springer, 2006, c2006
Hasła przedmiotowe:	Circuitos Integrados - > Prueba y Medición - > Tema Principal Circuitos Electrónicos Microelectrónica Ingeniería Electrónica
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!