Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques /
Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueb...
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| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Londres, Inglaterra :
Springer,
2006, c2006
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| Schlagworte: | |
| Tags: |
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