Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques /
Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueb...
Gorde:
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Formatua: | Liburua |
| Hizkuntza: | ingelesa |
| Argitaratua: |
Londres, Inglaterra :
Springer,
2006, c2006
|
| Gaiak: | |
| Etiketak: |
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
| Sailkapena: |
621. 381548 GRO
|
||
|---|---|---|---|
| Ejemplar 0500174775 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
|
Bilduma:
Colección General
|
Oharrak:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
|