Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques /
Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueb...
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Londres, Inglaterra :
Springer,
2006, c2006
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| נושאים: | |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
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MARC
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| 520 | |a Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueba estructurada; 9) Prueba de sistema en un chip; 10) Generación de patrón de prueba y falla de simulación; 11) Equipo automático y producción de prueba; 12) Prueba económica. | ||
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