Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques /

Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueb...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Grout, Ian A. (autor)
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Londres, Inglaterra : Springer, 2006, c2006
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

MARC

LEADER 00000nam^a2200000^a^4500
001 000287595
005 20250521000000.0
009 20260310111843.15
020 |a 1-84628-023-0 
020 |a 978-1-84628-023-8 
037 |a Acervo ITESO - Biblioteca 
041 |a ING 
082 |a 621. 381548  |b GRO 
100 |a Grout, Ian A.  |e (autor) 
245 1 0 |a Integrated Circuit Test Engineering :  |b Modern Techniques /  |c I.A. Grout. 
264 4 |a Londres, Inglaterra :  |b Springer,  |c 2006, c2006 
300 |a XXX, 362 p. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a sin mediación  |b n  |2 rdamedio 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdasoporte 
520 |a Contenido: 1) Introducción a la ingeniería de prueba de circuitos integrados; 2) Procesos de fabricación de circuitos integrados; 3) Prueba de lógica digital; 4) Prueba de memoria; 5) Prueba análoga; 6) Prueba de señal mixta; 7) Prueba de entrada-salida; 8) Diseño de pruebas, Aproximación a la prueba estructurada; 9) Prueba de sistema en un chip; 10) Generación de patrón de prueba y falla de simulación; 11) Equipo automático y producción de prueba; 12) Prueba económica. 
649 |a XX 
650 |a Circuitos Integrados -  |x Prueba y Medición -  |x Tema Principal 
650 |a Circuitos Electrónicos 
650 |a Microelectrónica 
650 |a Ingeniería Electrónica 
910 |a Fondo General 
920 |a Impresos - Libros 
930 |a Colección General 
905 |a 101 
901 |a 0500174775  |b IT1  |c ACC  |i 000054  |u 20250521 
902 |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000287595