Physical Limitations of Semiconductor Devices /
Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivo...
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Інші автори: | |
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Nueva York, EUA :
Springer,
2008, c2008
|
| Предмети: | |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Будьте першим, хто залишить коментар!