Physical Limitations of Semiconductor Devices /
Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivo...
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| Autore principale: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Libro |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
Nueva York, EUA :
Springer,
2008, c2008
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| Soggetti: | |
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