Physical Limitations of Semiconductor Devices /

Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivo...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Vashchenko, Vladislav A. (autor)
Kolejni autorzy: Sinkevitch, V.F. (autor) (autor)
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Nueva York, EUA : Springer, 2008, c2008
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!