Physical Limitations of Semiconductor Devices /

Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivo...

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Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Vashchenko, Vladislav A. (autor)
Andre forfattere: Sinkevitch, V.F. (autor) (autor)
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: Nueva York, EUA : Springer, 2008, c2008
Fag:
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MARC

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520 |a Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivos de semiconductores; 6) Degradación de inestabilidades; 7) Modulación de la conductividad en dispositivos de la descarga electrostática (ESD); 8) Física de la fiabilidad. 
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