Physical Limitations of Semiconductor Devices /

Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivo...

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Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Vashchenko, Vladislav A. (autor)
Daljnji autori: Sinkevitch, V.F. (autor) (autor)
Format: Knjiga
Jezik:engleski
Izdano: Nueva York, EUA : Springer, 2008, c2008
Teme:
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Signatura:
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