Physical Limitations of Semiconductor Devices /
Contenido: 1) Fallas en dispositivos semiconductores; 2) Bases teóricas de inestabilidad de corriente en estructuras de transistores; 3) Mecanismos de inestabilidad térmica; 4) Inestabilidad de corriente isotérmica en silicones BJT y MOSFETs; 5) Inestabilidad isotérmica en componentes de dispositivo...
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Інші автори: | |
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Nueva York, EUA :
Springer,
2008, c2008
|
| Предмети: | |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Шифр: |
621. 38152 VAS
|
||
|---|---|---|---|
| Ejemplar 0500174757 |
Disponible
Préstamo 7 días a 90
|
Колекція:
Colección General
|
Примітки:
Ubicar en Nivel 2 Norte Área de Colección General
|