Digital Systems Testing and Testable Design /

Texto sobre prueba de sistemas digitales y diseños para pruebas en circuitos electronicos.

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Abramovici, Miron (autor)
Άλλοι συγγραφείς: Breuer, Melvin A. (autor) (autor), Friedman, Arthur D. (autor) (autor)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Nueva York, EUA : IEEE, 1990, c1990
Έκδοση:2a edición
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!