Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder (edición)
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Berlín, Alemania : Springer, 2006, c2006
Edice:(Lecture Notes in Computer Science)
On-line přístup:Ver documento en línea
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Právě probíhá údržba systému

Právě probíhá údržba knihovního systému.

V současné době nejsou dostupné informace o dostupnosti. Omlouváme se Vám za nepříjemnosti. Neváhejte nás kontaktovat a my se pokusíme zjistit požadované informace jinou cestou:

biblioteca@iteso.mx

Internet

Ver documento en línea