Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder (edición)
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Berlín, Alemania : Springer, 2006, c2006
Seri Bilgileri:(Lecture Notes in Computer Science)
Online Erişim:Ver documento en línea
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!