Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings /

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder (edición)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Berlín, Alemania : Springer, 2006, c2006
Serie:(Lecture Notes in Computer Science)
Accesso online:Ver documento en línea
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!