Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder (edición)
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Berlín, Alemania : Springer, 2006, c2006
Seria:(Lecture Notes in Computer Science)
Dostęp online:Ver documento en línea
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!