Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder (edición)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Berlín, Alemania : Springer, 2006, c2006
Colección:(Lecture Notes in Computer Science)
Acceso en línea:Ver documento en línea
Etiquetas: Agrega una etiqueta
Sin etiquetas, Sé el primero en etiquetar este registro!