Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder (edición)
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: Berlín, Alemania : Springer, 2006, c2006
Col·lecció:(Lecture Notes in Computer Science)
Accés en línia:Ver documento en línea
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!