Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings /

Guardado en:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Dit-Yan Yeung, James T. Kwok, Ana Fred, Fabio Roli, Dick Ridder (edición)
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: Berlín, Alemania : Springer, 2006, c2006
Serier:(Lecture Notes in Computer Science)
Online adgang:Ver documento en línea
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!