Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Algarve, Portugal, 1 - 13 October 2002 /
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Dordrecht, Holanda :
Springer,
2005, c2005
|
| Серія: | (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry)
|
| Онлайн доступ: | Ver documento en línea |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|