Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Algarve, Portugal, 1 - 13 October 2002 /
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Գիրք |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
Dordrecht, Holanda :
Springer,
2005, c2005
|
| Շարք: | (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry)
|
| Առցանց հասանելիություն: | Ver documento en línea |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
| Ֆիզիկական նկարագրություն: | 1 libro electrónico en línea (XXXVII, 488 p.) 1 recurso en línea |
|---|---|
| ISBN: | 978-1-4020-3019-2 |
| Հասանելի: | Licencias ilimitadas |