Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Algarve, Portugal, 1 - 13 October 2002 /
保存先:
| 第一著者: | |
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| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | 英語 |
| 出版事項: |
Dordrecht, Holanda :
Springer,
2005, c2005
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| シリーズ: | (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry)
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| オンライン･アクセス: | Ver documento en línea |
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