Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Algarve, Portugal, 1 - 13 October 2002 /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Paula Maria Vilarinho, Yossi Rosenwaks, Angus Kingon (edición)
Formato: Libro
Idioma:Inglés
Publicado: Dordrecht, Holanda : Springer, 2005, c2005
Colección:(NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry)
Acceso en línea:Ver documento en línea
Etiquetas: Agrega una etiqueta
Sin etiquetas, Sé el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares similares: Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials :