Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials : Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials, Algarve, Portugal, 1 - 13 October 2002 /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Dordrecht, Holanda :
Springer,
2005, c2005
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| Colección: | (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry)
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| Acceso en línea: | Ver documento en línea |
| Etiquetas: |
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