Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves /

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, . Njora Hungi (edición)
Формат: Книга
Мова:Англійська
Опубліковано: Dordrecht, Holanda : Springer, 2005, c2005
Серія:(Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects)
Онлайн доступ:Ver documento en línea
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!