Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, . Njora Hungi (edición)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Dordrecht, Holanda : Springer, 2005, c2005
Serie:(Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects)
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Descrizione
Descrizione fisica:1 libro electrónico en línea (XVIII, 360 p.)
1 recurso en línea
ISBN:978-1-4020-3076-5
ISSN:2214-9791
Accesso:Licencias ilimitadas