Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, . Njora Hungi (edición)
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Dordrecht, Holanda : Springer, 2005, c2005
Seria:(Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects)
Dostęp online:Ver documento en línea
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!