Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, . Njora Hungi (edición)
Formato: Livro
Idioma:inglês
Publicado em: Dordrecht, Holanda : Springer, 2005, c2005
Colecção:(Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects)
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