Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, . Njora Hungi (edición)
Formaat: Boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Dordrecht, Holanda : Springer, 2005, c2005
Reeks:(Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects)
Online toegang:Ver documento en línea
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!