Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, . Njora Hungi (edición)
Formato:	Libro
Idioma:	Inglés
Publicado:	Dordrecht, Holanda : Springer, 2005, c2005
Colección:	(Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects)
Acceso en línea:	Ver documento en línea
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