Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars : Papers in Honour of John P. Keeves /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Rupert Maclean, Ryo Watanabe, Robyn Baker, Boediono, Yin Cheong Cheng, Wendy Duncan, John Keeves, Zhou Mansheng, Colin Power, J. S. Rajput, Konai Helu Thaman, Sivakumar Alagumalai, David D. Curtis, . Njora Hungi (edición)
Формат:
Язык:английский
Опубликовано: Dordrecht, Holanda : Springer, 2005, c2005
Серии:(Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects)
Online-ссылка:Ver documento en línea
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!